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二维码（扫一下试试看！） |
| 胎面2D花纹的自动测量及重构算法研究 |
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| DOI： |
| 中文关键词: 胎面花纹；特征遍历；CATIA；CAA组件应用架构；自动测量；模型重构 |
| 英文关键词: |
| 基金项目: |
| 中图分类号:U463.341；TP391.7 |
| Author Name | Affiliation | | CHEN Jinfu | Otsuka Materials Technology（Shanghai）Co.，Ltd | | SONG Zhonghui | Zhangjiagang Otsuka Chemical Co.，Ltd | | DONG Yude | Otsuka Materials Technology（Shanghai）Co.，Ltd | | ZHANG Fangliang | Otsuka Materials Technology（Shanghai）Co.，Ltd | | LIU Yanchao | 佳通轮胎（中国）研发中心 | | BAI Sucheng | 佳通轮胎（中国）研发中心 |
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| 中文摘要: |
| 针对胎面花纹结构复杂而无规律造成模型测量重复繁琐的问题，提出基于特征遍历的自动测量算法。该算法是在对零件结构特征以及面向组件技术研究的基础上，通过获取零件特征句柄来获得特型树的根节点，进而利用特征遍历的方法获取2D花纹几何图形集中所有子集合，最后采用不同的方法测得轮胎2D花纹图形元素所对应的特征数据。同时为实现模型重构，以CATIA/CAA为二次开发平台，并结合数据库技术以及参数化建模技术开发出一套集参数测量、参数管理、模型重构于一体的综合系统。实际应用分析表明，该系统不仅提高了胎面2D花纹参数测量的效率且解决了不同用户间数据与模型共享问题。 |
| 英文摘要: |
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